X射线衍射仪的基本原理

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x射线的波长和晶体内部原子面之间的间距相近,晶体可以作为x射线的空间衍射光栅,即一束x射线照射到物体上时,受到物体中原子的散射,每个原子都产生散射波,这些波互相干涉,结果就产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强,在其他方向上减弱。分析衍射结果,便可获得晶体结构。以上是1912年德国物理学家劳厄(m.von laue)提出的一个重要科学预见,随即被实验所证实。1913年,英国物理学家布拉格父子(w.h.bragg,w.l.bragg)在劳厄发现的基础上,不仅成功的测定了nacl,kcl等晶体结构,还提出了作为晶体衍射基础的公式——布拉格方程:2dsinθ=nλ。
对于晶体材料,当待测晶体与入射束呈不同角度时,那些满足布拉格衍射的晶面就会被检测出来,体现在xrd图谱上就是具有不同的衍射强度的衍射峰。对于非晶体材料,由于其结构不存在晶体结构中原子排列的长程有序,只是在几个原子范围内存在着短程有序,故非晶体材料的xrd图谱为一些漫散射馒头峰。
x射线衍射仪是利用衍射原理,测定物质的晶体结构,织构及应力,的进行物相分析,定性分析,定量分析。广泛应用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教学,材料生产等领域。

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