pcb高低温老化试验箱高低温老化试验箱方法 pcb高低温老化试验箱是一种用于模拟产品在不同温度下长期运行的试验设备。其主要作用是测试电子产品在高温、低温环境下的稳定性和可靠性,以便于产品设计者对产品进行优化和改进。该试验箱通常由温度控制系统、加热装置、制冷装置、温度传感器、数据采集系统等组成。在测试过程中,将待测的pcb或电子元器件放入试验箱内,通过控制温度和时间,模拟不同环境下的长期使用情况,观察产品在不同温度下的性能和稳定性变化。
通过pcb高低温老化试验箱的测试,可以有效评估产品在不同温度环境下的可靠性和稳定性,为产品设计和制造提供重要参考。 一、设备简介:
豪恩系列高低温试验箱适合电子、塑胶制品、电器、仪表、食品、车辆、金属、化学、建材、航天、医疗…等制品检测质量之用。专门测试各种材料耐热、耐寒的性能。本机可选择中文或英文液晶显示触控式屏幕画面,操作简单,程序编辑容易,人性化设计。可显示完整的系统操作状况相关数据、执行及设定程序曲线。运转中发生异常状况,屏幕即刻自动报警,显示故障原因及提供排除故障方法。
二、满足标准:
gb5170、2、3、5、6-2017、gb 2423.1-2001(iec68-2-1)、gb 2423.2-2008(iec68-2-2)、gb/t 2423.3-2016(iec68-2-3)、gb/t2423.4-2008(iec68-2-30)、gjb150.3(ml-std0-810d)、gjb150.4(mil-std-810d)、gjb150.9-2009、gjb4.5-1983、gjb4.6-1983、gjb367.2-1987、gjb360.8-2009、gb/t5170.2-2017、gb/t5170.5-2016、gb10592-2008、gb10586-2006等
三、主要技术指标:
27升(桌上型): 300×300×300(mm)
ac 单相三线220v 50hz
he-gd-27a7 0℃~+150℃
he-gd-27b7 -20℃~+150℃
he-gd-27c7 -40℃~+150℃
he-gd-27d7 -60℃~+150℃
he-gd-27e7 -70℃~+150℃
he-gd-27f7 -80℃~+180℃
80升: 400×500×400(mm)
ac 单相三线220v 50hz
he-gd-80a7 0℃~+150℃
he-gd-80b7 -20℃~+150℃
he-gd-80c7 -40℃~+150℃
he-gd-80d7 -60℃~+150℃
he-gd-80e7 -70℃~+150℃
he-gd-80f7 -80℃~+180℃
100升: 500×500×400(mm)
ac 单相三线220v 50hz
he-gd-100a7 0℃~+150℃
he-gd-100b7 -20℃~+150℃
he-gd-100c7 -40℃~+150℃
he-gd-100d7 -60℃~+150℃
he-gd-100e7 -70℃~+150℃
he-gd-100f7 -80℃~+180℃
150升: 500×600×500(mm)
ac 单相三线220v 50hz
he-gd-150a7 0℃~+150℃
he-gd-150b7 -20℃~+150℃
he-gd-150c7 -40℃~+150℃
he-gd-150d7 -60℃~+150℃
he-gd-150e7 -70℃~+150℃
he-gd-150f7 -80℃~+180℃
225升: 500×750×600(mm)
ac 三相五线380v 50hz
he-gd-225a7 0℃~+150℃
he-gd-225b7 -20℃~+150℃
he-gd-225c7 -40℃~+150℃
he-gd-225d7 -60℃~+150℃
he-gd-225e7 -70℃~+150℃
he-gd-225f7 -80℃~+180℃
408升: 800×850×600(mm)
ac 三相五线380v 50hz
he-gd-408a7 0℃~+150℃
he-gd-408b7 -20℃~+150℃
he-gd-408c7 -40℃~+150℃
he-gd-408d7 -60℃~+150℃
he-gd-408e7 -70℃~+150℃
he-gd-408f7 -80℃~+180℃
800升: 1000×1000×800(mm)
ac 三相五线380v 50hz
he-gd-800a7 0℃~+150℃
he-gd-800b7 -20℃~+150℃
he-gd-800c7 -40℃~+150℃
he-gd-800d7 -60℃~+150℃
he-gd-800e7 -70℃~+150℃
he-gd-800f7 -80℃~+180℃
1000升: 1000×1000×1000(mm)
ac 三相五线380v 50hz
he-gd-1000a7 0℃~+150℃
he-gd-1000b7 -20℃~+150℃
he-gd-1000c7 -40℃~+150℃
he-gd-1000d7 -60℃~+150℃
he-gd-1000e7 -70℃~+150℃
he-gd-1000f7 -80℃~+180℃
控制精度: ±0.2℃
均匀度: ≤2.0℃
升温速率: 平均3℃/min(非线性、空载时;从常温+25℃升至+85℃约20min);
降温速度: 平均1℃/min(非线性、空载时;从常温+25℃降至-40℃约65min);
内箱材质: sus 304镜面不锈钢
外箱材质: 纱面不锈钢或冷钢板烤漆处理
制冷系统: 采用法国泰康/日本三洋/美国谷轮/德国比泽尔/德国博客等一线制冷压缩机
制冷剂: 环保冷媒r404a和r23
冷却方式: 鳍片式冷凝器附散热蒸发器(风冷式)
控制系统: 可编程触摸屏温湿度控制器(7寸彩色屏)
保护装置: 无熔丝开关,压缩机高压、过热、过流保护,超温保护,风机过载保护,保险丝
标准配置: 置物架2套,观察窗1个,测试孔1个,脚轮4个,
联机软件: 232或usb接口,赠送联机软件
高低温老化试验箱主要是通过模拟产品在不同温度下的长期使用情况,对产品进行可靠性和稳定性测试。下面是高低温老化试验箱的方法:1.准备待测的pcb板或电子元器件,根据产品的使用环境和要求设置测试温度,一般可设置高温和低温两种温度。
2.将待测pcb板或电子元器件放置在高低温老化试验箱内,注意安排合理的空间,避免不必要的干扰和影响。
3.设置高低温老化试验箱的温度控制系统,根据测试要求设置温度范围、温度升降速率和温度稳定度等参数。
4.开始进行高低温老化试验,持续一定时间,一般可根据产品要求设置测试时间,一般为数天或数周。
5.观察和记录测试过程中的数据和性能参数,如电阻、电容、电压、温度、湿度等指标,以便于后续的数据分析和处理。
6.结束测试后,将测试数据整理和分析,评估产品在不同温度环境下的可靠性和稳定性,为产品设计和制造提供重要参考。
需要注意的是,在进行高低温老化试验时,应严格遵守试验箱的使用说明和安全规范,确保测试过程的安全和稳定。同时,根据测试要求和实际情况,可以适当调整试验参数和时间,以便于更好地评估产品的可靠性和稳定性。
关键词:试验箱 试验设备 数据采集 温度传感器 老化试验箱
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