关于介电常数测试仪
hcjdcs-b型 高频介电常数及介质损耗测试仪
产品简介
hcjdcs-b介电常数及介质损耗测试仪是根据gb/t 1409《测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的试验方法》（等效采用iec 60250）设计和制造的，并符合jb 7770等试验方法。
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。仪器遵从标准：gb/t5594.4-1985。
产品特点
它适用于在高频（1mhz）下绝缘材料的测试。
介电常数又称电容率或相对电容率，是表征电介质或绝缘材料电性能的一个重要数据，常用ε表示。介质在外加电场时会产生感应电荷而削弱电场，原外加电场(真空中)与终介质中电场比值即为介电常数。其表示电介质在电场中贮存静电能的相对能力，例如一个电容板中充入介电常数为ε的物质后可使其电容变大ε倍。介电常数愈小绝缘性愈好。如果有高介电常数的材料放在电场中，场的强度会在电介质内有可观的下降。介电常数还用来表示介质的极化程度，宏观的介电常数的大小，反应了微观的极化现象的强弱。气体电介质的极化现象比较弱，各种气体的相对介电常数都接近1，液体、固体的介电常数则各不相同，而且介电常数还与温度、电源频率有关。
物质介电常数具有复数形式，其实部即为介电常数，虚数部分常称为耗散因数。
通常将耗散因数与介电常数之比称作耗散角正切，其可表示材料与微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料与微波的耦合能力就越强。例如当电磁波穿过电解质时，波的速度被减小，波长也变短了。
适用范围
该仪器用于科研单学、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。
参数规格
1 q值测量范围：5～999
q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡
误差：25khz～10mhz ≤5%±满度值的2%
10mhz～50mhz≤7%±满度值的2%
2 电感测量范围：0.1μh～1h分七个量程
3 电容测量范围：1pf～460pf
主电容调节范围：40pf～500 pf
准确度：150pf以下±1.5pf
150pf以上±1%
微调电容调节范围：-3pf～0pf～+3pf
准确度：±0.2pf
4 频率覆盖范围：25 khz～50mhz 分七段
指示误差：2×10-4±2个字
5 电源：220v±22v 50hz±2.5hz 25w
6 环境温度：(0～+40)℃
7 相对湿度：rh<80%
8 外形尺寸：380mm×132mm×280mm
9 重量：约7kg
10.电感9只；
11.夹具一套
工作原理
1．本仪器适用于110v/220v , 50hz+0.5hz交流电，使用前要检查市电电压是否合适，采用稳压电源，以保证测试条件的稳定。
2．开机预热15分钟，使仪器恢复正常状态后才能开始测试。
3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。
4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为c1，品质因素为q1。
5．“△q零点调节”旋钮使q表指向表头中间零点。
6．“q量程”开关扳回500档。
7．将被测样品接在“cx”接线柱上。
8．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为c2，“q量程”扳向△q位置，可以直接读出△q，并且q2= q1－△q，将q表量程扳回500档。
9．用游标卡尺量出试样的直径φ和厚度d（分别在不同位置测得两个数据，再取其平均值）。
四、实验结果
1．tanδ和ε测定记录
实验数据按表1要求填写。
表1tanδ和ε测定记录表
试样名称
测定人
测定时间
试样处理
编号
c1
c2
c
d
ψ
δ
q1
△q
q2
tanδ
qx
2．计算
cd
φ2
1）介电常数ε
ε=
式中：c---试样的电容量（pf）,c=c1－c2；
d---试样厚度（cm）；
φ—试样直径（cm）。
c1△qc1q1－q2
c1－c2q1* q2c1－c2q1* q2
2）介质损耗角正切tanδ
tanδ=*=*
1q1q2c1－c2
tanδq1－q2c1
3）q值
q==*
注意事项
1．圆片形试样的尺寸（φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。
2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。
3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。
4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。
5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡，“本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应小，而无大变化。
客户好评
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黎明化工研究设计院有限责任公司
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1 q值测量范围：5～999
q值量程分档：30、100、300、999、自动换档或手动换挡
误差：25khz～10mhz ≤5%±满度值的2%
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3 电容测量范围：1pf～460pf
主电容调节范围：40pf～500 pf
准确度：150pf以下±1.5pf
150pf以上±1%
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3．按部件标准制备好的陶瓷试样，两面用烧渗法被上银层，并分别焊上一根φ0.8mm，30~40mm长的金属引线。引线材料为铜，表面镀银并浸锡。
4．选择适当的辅助线圈插入电感接线柱。根据需要选择振荡器频率，调节测试电路电容器使电路谐振。假定谐振时电容为c1，品质因素为q1。
5．“△q零点调节”旋钮使q表指向表头中间零点。
6．“q量程”开关扳回500档。
7．将被测样品接在“cx”接线柱上。
8．再调节测试电路电容器使电路谐振，这时电容为c2，“q量程”扳向△q位置，可以直接读出△q，并且q2= q1－△q，将q表量程扳回500档。
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测定时间
试样处理
编号
c1
c2
c
d
ψ
δ
q1
△q
q2
tanδ
qx
2．计算
cd
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1）介电常数ε
ε=
式中：c---试样的电容量（pf）,c=c1－c2；
d---试样厚度（cm）；
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2）介质损耗角正切tanδ
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1q1q2c1－c2
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3）q值
q==*
注意事项
1．圆片形试样的尺寸（φ=38mm+1mm，d=2mm+0.5mm）要符合公差要求，两面烧渗银层、浸锡及焊接引出线要符合技术条件。
2．电压或频率的剧烈波动常使电桥不能达到良好的平衡，所以测定时，电压和频率要求稳定，电压变动不得大于1%，频率变动不得大于0.5%。
3．电极与试样的接触情况，对tanδ的测试结果有很大影响，因此烧渗银层电极要求接触良好、均匀，而厚度合适。
4．试样吸湿后，测得的tanδ值增大，影响测量精度，应严格避免试样吸潮。
5．在测量过程中，注意随时检查电桥本体屏蔽的情况，当电桥真正达到平衡，“本体-屏蔽”开关置于任何一边时，检查计光带均应小，而无大变化。
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