美国x射线膜厚测试仪
美国x射线膜厚测试仪工作原理：
对于x射线，在其穿透被测材料后，射线强度i的衰减规律为
式中 i0———入射射线强度；
μ———吸收系数；
h———被测材料的厚度。
当μ和i0一定时，i仅仅是板厚h的函数，所以测出i就可以知道厚度h。
x射线膜厚仪原理是根据x射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的x射线量，根据该x射线的能量值，确定被测件的厚度。由x射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
x射线源辐射强度的大小，与x射线管的发射强度和被测钢板所吸收的x射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的x射线能量值，可利用m215型x射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定x射线的能量值，使检测能够顺利完成。
简单的说，就是射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：i=ir*exp（-ux）,tr为初始射线强度，i为穿过物体后的射线强度，u为衰减系数，x为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，其u值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的u值。一般而言密度越大的材料其u值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
在x射线照相中，在能穿透工件的前提下，尽可能选择较低管电压，从而得到较大的衰减系数和较小的散射比，即14rtl值尽可能大，以便提高射线照相灵敏度。
①一般说来，射线源都有一定的几何尺寸，当缺陷尺寸比焦点尺寸d大得多时，焦点对透照底片对比度d的影响可忽略不计。
②当缺陷尺寸f（小于焦点尺寸）时，就会出现由焦点尺寸f引起的透照几何条件的影响，此时底片对对比度必须进行修正。
③当金属丝（缺陷）直径d减少时，会使d’用变大，（d＞1），形状修正系数。急剧减小。因此，要考虑修正系数。对凸d的影响。。当d’大时，金属丝的“几何因素修正系数。”随几何间距与金属丝直径比值d’用的急剧增大而减小。对细小缺陷（或细金属丝）来说，由于的较小，d也较少，所以在底片上较难识辩其影象。
其它∶
●标准图像源设备必须使用ntsc或pal格式，有复合视频或s-video，甚至rgb输出接口；
●非标准信号需要得到其行频、场频等信息，可用示波器或微视测试卡。
●如需声音采集则还需要
博曼（bowman ）分析:
元素范围：铝13到铀92。
x射线激发能量：50 w（50 kv和1 ma）钨靶射线管
探测器：硅pin检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
测量的分析层和元素：5层（4层镀层+基材）和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
过滤器/准直器：4个初级滤波器,4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
聚焦:多固定聚焦与激光系统
数字脉冲处理:4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括x射线时间修正和防x射线积累
电脑:英特尔酷睿i5 3470处理器（3.2 ghz）,8 gb ddr3内存,微软windows 7专业64位等效
镜头:1/4 cmos - 1280 x720 vga分辨率
电源:150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹
工作环境:50°f（10°c）到104°f（40°c）小于98% rh,无冷凝水
重量:32公斤
内部尺寸:高:140毫米（5.5“）,宽:310毫米（12）,深:210毫米（8.3”） 140*310mm
外形尺寸:高:450毫米（18英寸）,宽:450毫米（18）,深:600毫米（24） 450*450mm
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式中 i0———入射射线强度；
μ———吸收系数；
h———被测材料的厚度。
当μ和i0一定时，i仅仅是板厚h的函数，所以测出i就可以知道厚度h。
x射线膜厚仪原理是根据x射线穿透被测物时的强度衰减来进行转换测量厚度的，即测量被测钢板所吸收的x射线量，根据该x射线的能量值，确定被测件的厚度。由x射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由测厚仪操作系统转换为显示给人们以直观的实际厚度信号。
x射线源辐射强度的大小，与x射线管的发射强度和被测钢板所吸收的x射线强度相关。一个在系统量程范围内的给定厚度，为了确定其所需的x射线能量值，可利用m215型x射线检测仪进行校准。在检测任一特殊厚度时，系统将设定x射线的能量值，使检测能够顺利完成。
简单的说，就是射线在穿透一定的物质时，其强度的呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为：i=ir*exp（-ux）,tr为初始射线强度，i为穿过物体后的射线强度，u为衰减系数，x为射线穿过的厚度。
对于不同的材料，其u值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的u值。一般而言密度越大的材料其u值就越大，比如铅的密度在天然非放射性元素中的密度是zui大的，相应的射线阻挡能力就越强，因此在核技术实验中用作屏障，与之类似的就是铅玻璃。
在x射线照相中，在能穿透工件的前提下，尽可能选择较低管电压，从而得到较大的衰减系数和较小的散射比，即14rtl值尽可能大，以便提高射线照相灵敏度。
①一般说来，射线源都有一定的几何尺寸，当缺陷尺寸比焦点尺寸d大得多时，焦点对透照底片对比度d的影响可忽略不计。
②当缺陷尺寸f（小于焦点尺寸）时，就会出现由焦点尺寸f引起的透照几何条件的影响，此时底片对对比度必须进行修正。
③当金属丝（缺陷）直径d减少时，会使d’用变大，（d＞1），形状修正系数。急剧减小。因此，要考虑修正系数。对凸d的影响。。当d’大时，金属丝的“几何因素修正系数。”随几何间距与金属丝直径比值d’用的急剧增大而减小。对细小缺陷（或细金属丝）来说，由于的较小，d也较少，所以在底片上较难识辩其影象。
其它∶
●标准图像源设备必须使用ntsc或pal格式，有复合视频或s-video，甚至rgb输出接口；
●非标准信号需要得到其行频、场频等信息，可用示波器或微视测试卡。
●如需声音采集则还需要
博曼（bowman ）分析:
元素范围：铝13到铀92。
x射线激发能量：50 w（50 kv和1 ma）钨靶射线管
探测器：硅pin检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
测量的分析层和元素：5层（4层镀层+基材）和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素
过滤器/准直器：4个初级滤波器,4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
聚焦:多固定聚焦与激光系统
数字脉冲处理:4096 多通道数字分析器与自动信号处理，包括x射线时间修正和防x射线积累
电脑:英特尔酷睿i5 3470处理器（3.2 ghz）,8 gb ddr3内存,微软windows 7专业64位等效
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电源:150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹
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重量:32公斤
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